안녕하세요

(주)씨엔피코의 김태윤 대리입니다.

저희는 반도체·전자부품 제조 현장에서 발생하는 이물(파티클) 및 흄 저감을 위한 집진·장비를 전문으로 다루고 있습니다.

검사 장비의 경우, 

전단 공정에서 발생하는 미세 파티클이나 흄이 카메라 렌즈 및 검사 환경을 오염시켜 검사 정확도 저하로 이어지는 사례가 업계에서 종종 보고되는 것으로 알고 있습니다. 

저희는 관련 현장에서 이물 저감 솔루션의 세정력 테스트를 진행하여 실질적인 개선 효과를 검증한 경험이 있으며, 

이러한 사례가 귀사의 검사 장비 신뢰성 향상에도 참고가 될 수 있다고 판단하여 문의드립니다.

관련하여 담당 부서(품질보증팀, 기술지원팀, 또는 구매/설비 담당 부서)와 연결이 가능하실지, 

혹은 담당자 연락처를 안내받을 수 있을지 문의드립니다. 

바쁘신 중에 확인해 주셔서 감사드리며, 회신 기다리겠습니다.

감사합니다.

(주)씨엔피코

김태윤 대리 

010-7730-4893

tykim@cnp-co.com